ESD静电击穿是什么原因造成的

首页 / 文章列表 (第 1 / 1 页 · 共 1 篇)

ESD静电击穿：揭秘其背后的原因与防护策略
ESD静电击穿，即静电放电导致的击穿现象，是半导体集成电路在制造、测试、运输和使用的各个环节中常见的故障之一。当静电电压超过器件的耐受阈值时，会在器件内部形成电弧，导致器件性能下降甚至永久损坏。

2026-07-15